日　時：

平成１６年１１月１２日（金）１３：３０～１５：００

場　所：

香川大学地域開発共同研究センター３階セミナー室(工学部林町キャンパス内)

グループリーダー：

牛田善喜（隆祥産業）

特別講演：

13:30～14:30

『スペックル干渉計測における縞解析技術』
関西大学工学部　計測システム研究室教授　　新井　泰彦　氏

14:30～15:00

『単一細胞分光トモグラフィ、高フォトンアブレーションなどの光技術について』
香川大学工学部知能　石丸　伊知 郎　氏